面向射频前端芯片、功率半导体器件、CIS 图像传感器以及先进封装器件测试场景，采用 FormFactor 旗下 Cascade 系列探针台，搭配射频 / 毫米波探针、探针卡与低噪声屏蔽测试方案，可覆盖从晶圆级电性表征、裸片测试到先进封装成品验证的全链路测试需求。整套测试平台可与良率分析系统无缝对接，打通测试数据采集、上传、统计分析全流程，形成完整的数据闭环，助力客户高效完成器件性能表征、可靠性验证与良率提升。