- CASCADE CM300MM PROBE SYSTEMS
- Cascade 300 mm 探针台
Cascade 300 mm 探针台树立了手动及全自动晶圆测试的行业标杆,可提供精密性能与丰富适配能力,满足各类先进、复杂的测试需求。
- CASCADE 200MM PROBE SYSTEMS
- Cascade 200 mm 探针台
无论是器件表征、参数建模、工艺开发、设计调试还是集成电路失效分析场景,200mm手动及全自动晶圆探针台,均具备先进半导体工艺与微缩化器件测试所需的超高精度与多功能适配能力。
- CASCADE 150MM PROBE SYSTEMS
- Cascade 150 mm 探针台
Cascade150mm系列包含通用模块化MPS150与光子测试专用MPS150-SiPh两款探针台,适配多样化研发测试场景。MPS150可基于模块化组件灵活定制,拓展性强、性价比优异。MPS150-SiPh操作简便,可实现高精度光纤对位与无接触光耦合,是高校及入门级光子学测试的理想设备。
- CASCADE INFINITY PROBES
- Cascade Infinity 探针
Infinity 探针专为器件特性表征与建模打造,适配铝焊盘,具备优异高频性能。
- CUSTOM PRODUCTS
- 定制产品
INVENTECH深耕半导体和新型显示15年以上,积累了丰富的行业检测经验,可按需开发各类测试组件,灵活适配晶圆高频测试,快速响应客户个性化测试需求,为客户量身定制专属检测方案。













