- InfinityXF
- InfinityXF 探针
Cascade InfinityXF毫米波同轴晶圆探针，面向最高 250GHz宽带晶圆级毫米波测试的一体化同轴探针方案，专为毫米波器件S参数测量、器件建模开发，可搭配 SUMMIT/CM 系列探针台与是德科技 VNA 扩频模块使用。
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- 超宽带测试
- DC~250GHz
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- 标配
- 0.5mm 专利同轴接头
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- 测试温域
- -40℃~+175℃
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- PRODUCT OVERVIEW
- 产品概述
InfinityXF™革新同轴晶圆探针技术，达成 DC~250GHz 超宽带测试，升级高性能 S 参数测量标准。
依托 FormFactor 成熟 Infinity 探针平台，联合是德科技协同研发，适配其新一代 PNA-X 网络分析仪与 250GHz 扩频模块，标配 0.5mm 专利同轴接头。
搭配品牌一体化探针台可快速调试，全频段测量稳定、重复性佳，省去模块搭配、混合探针及复杂跨频段校准步骤，高效轻量化。
适用于宽带器件建模、448Gbps PAM4、PCIe 6.0 高速数字、新一代高频无线通信研发。
- CORE VALUE
- InfinityXF™革新同轴晶圆探针技术
达成 DC~250GHz 超宽带测试，升级高性能 S 参数测量标准。
- Key Features
- 主要特色
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01
- 适配设备
- 超小型探针适配 Keysight NA5307A 扩频模块，传输路径短、损耗低。
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02
- 针尖特性
- 铑合金实心针尖接触电阻极低，定位销保障装配平面度，针尖可视性强，对位精准可重复。
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03
- 结构配置
- 支持多种针尖布局（GSG、GSGSG、GSSG）与可调间距，悬臂可快速更换。
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04
- 创新底座
- 拆装安全，搭配温控组件可在 -40℃~+175℃ 稳定工作，依托 WinCal 5.1 标定算法实现可靠差分测量。
- Applications
- 应用场景
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01射频半导体器件表征与建模（RF Semiconductor Device Characterization and Modeling）
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02先进制程芯片研发（Advanced Process Chip R&D）
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03器件可靠性与温偏测试（Device Reliability and Temperature-Bias Test）
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04学术与企业研发实验室（Academic and Industrial R&D Laboratories）
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